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日立S-3400N型钨丝灯日立S-3400N型钨丝灯扫描电子显微镜租赁

扫描电子显微镜(SEM) 利用的技术是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段，其使用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。S-3400N是日立公司推出的带有VP模式(VariablePressure)，即可控气体压模式的一款高性能钨灯丝扫描电镜。通过VP模式，不导电样品的直接观测成为可能，使得原来不适合蒸镀的样品也可观察，扩展了应用范围。

一、设备租赁简要说明

日立S-3400N型钨丝灯扫描电子显微镜   

日立S-3400N型钨丝灯扫描电子显微镜 设备简介

S-3400N的很多设计提升了仪器性能并简化了操作，对电镜的使用者具有极大的实用价值。

 新的电子枪和透镜设计，使得S-3400N在高低加速电压下均可成高分辨像，并且自动应对加速电压的数值调整电子枪的发射和透镜补偿，简化了操作，没有电镜使用经验的新用户也可轻松享受低加速电压带来的应用价值。

 新的软硬件设计使得S-3400N具有优异性能和强大的扩展能力，同时操作简易维护方便，此外还继承了日立电镜一贯具有的优异的稳定性。

新增加的自动功能AAA(自动合轴)和ABS(自动束设定)简化了操作。

S-3400N扫描电镜的技术特点：  

1、新增加的自动功能：AAA(自动合轴)、ABS(自动束设定)等

2、优异的低加速电压分辨率

3、实时的全屏、分割显示和新的信号混合模式

4、新开发的高灵敏半导体式背散射探头

5、强大的样品装载能力，可装载直径200mm的样品

6、强大的扩展能力，可同时安装能谱、波谱和EBSP

7、快捷、洁净的分子泵系统

8、电脑控制的优中心、5轴马达样品台，可倾斜-20~+90度(II型)

9、新颖的非接触式的碰撞保护功能(II型)

●设备基本参数●

二、设备特点

日立HitachiS-3400N扫描电子显微镜设备具有新研制的电子光学系统和自动化功能显示系统有全屏显示，无闪烁，高像素和实时图像显示等优异的性能，它还可以实时信号混合并同时显示两个不同的检测器观测到的互不相同的样品信息。

1、电子光学系统的进步

2、简易的操作

3、新型高灵敏5分割背散射探头

日立HitachiS-3400N扫描电子显微镜通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性，高灵敏度半导体背散射电子检测器可以在快速扫描模式下运行，这使得寻找大尺寸样品中感兴趣的区域更为简单和便利。

4、分析型样品室

5、电脑控制的5轴马达样品台(II型)

6、维护方便

7、选配功能

三、设备检测应用  

扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。

S-3400N具有最新开发的电子光学系统，具有更多的自动化功能，操作界面更友好。主要功能有纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料、导体与非导体、地矿、考古等表面微观形貌观察及成分分析。